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JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統以及光學顯微鏡圖像的聯動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。

JEM-Z200FSC 場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統。新設計的Ω能量過濾器與無孔位相板的組合，進一步提高了生物樣品的襯度。

NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統，可以自動進行快速準確的像差校正。新STEM成像技術（e-ABF法）可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰（襯度）圖像。

JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起，實現了高度穩定性和高分辨率，以精煉的外觀設計呈現。該設備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設備也能采集到數據。

JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡是GRAND ARMTM的第二代產品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。