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產品簡介
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,電子/電池,綜合 |
EM-09100IS離子切片儀用于TEM、STEM、SEM、EPMA和AUGER樣品制備的創新方法：制備薄膜樣品除了需要將樣品切成矩形薄片外，不需要溶劑或化學試劑及前處理（打磨或凹坑研磨），比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
EM-09100IS離子切片儀的主要特點:高質量的透射電鏡樣品的前處理快速制備無需復雜的前處理。
1.度的表面損傷。
2.高質量的透射電鏡樣品的前處理。
3.快速制備。
4.無需復雜的前處理。
5.最小限度的表面損傷。
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