產品中心
Product Center
產品簡介
IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,電子/電池,綜合 |
低溫冷凍離子切片儀帶有樣品冷卻系統，對容易受熱損傷的樣品也可以進行截面制備的離子切片儀。
低溫冷凍離子切片儀特點：
①通過液氮制冷，減輕了離子照射時對樣品造成的熱損傷。
②可以用于制備TEM的薄膜樣品和SEM的截面樣品*
?、劾鋮s保持時間長，大大減少了熱損傷。
?、茉谘b有液氮的情況下，也可以交換樣品。
*最大樣品尺寸:2.8mm(長度)×1.0 mm(寬度)×0.1mm(厚度)。
帶有樣品冷卻系統，對容易受熱損傷的樣品也可以進行截面制備的離子切片儀。
①通過液氮制冷，減輕了離子照射時對樣品造成的熱損傷。
?、诳梢杂糜谥苽銽EM的薄膜樣品和SEM的截面樣品。
?、劾鋮s保持時間長，大大減少了熱損傷。
④在裝有液氮的情況下，也可以交換樣品。
*最大樣品尺寸:2.8mm(長度)×1.0 mm(寬度)×0.1mm(厚度)。
當前位置：
上一個：
返回列表
