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JSM-IT800 場發(fā)射掃描電鏡具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導(dǎo)航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。

InTouchScope™ 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設(shè)計緊湊、配備大樣品室。

JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它”，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。