JIB-4700F雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F能進行高分辨觀察、高速分析、高速加工的FIB/SEM裝置。

　　隨著先進材料構(gòu)造的微細化和制造過程的復(fù)雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術(shù)也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。該設(shè)備的SEM鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kV低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300nA探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。FIB鏡筒利用最大探針電流為90nA的高電流密度的Ga離子束，對樣品進行高速加工。利用FIB高速截面加工后的高分辨SEM觀察和使用EDS(能譜儀)及EBSD(晶體取向分析系統(tǒng))等各種分析裝置，可以進行高速分析。此外還標配了三維分析功能，能以固定的間隔自動進行截面加工并同時獲取截面的SEM圖像。

　　高分辨率SEM觀察通過采用電磁場疊加的圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測器，在1kV低加速電壓下實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率。

　　高速分析浸沒式肖特基電子槍與最佳光闌角控制鏡組合，大探針電流分析時也能保持高分辨率。

　　高速加工FIB鏡筒利用高電流密度的Ga離子束,對樣品進行高速加工。

　　加強了檢測系統(tǒng)利用新開發(fā)的同步檢測系統(tǒng)（包括in-lens檢測器），最多能實時觀察4個檢測器的圖像。

　　擴展性可支持EDS、EBSD、冷凍傳輸系統(tǒng)、冷凍樣品臺、空氣隔離傳輸系統(tǒng)（Air-isolation transfer vessel）等豐富的選配附件。

　　三維觀察、三維分析高分辨率SEM和各種分析單元（選配項）組合，能對圖像和分析數(shù)據(jù)進行三維觀察。

　　樣品臺聯(lián)動功能利用樣品提取系統(tǒng)（Sample Pick-up System，選配項）和樣品臺聯(lián)動功能，能簡單地提取TEM樣品。

　　圖像疊加（picture overlay）系統(tǒng)通過和附帶光學顯微鏡的樣品提取系統(tǒng)組合，將光鏡圖像疊加在FIB圖像上，能容易地定出FIB的加工位置。