技術文章
Technical articles測角臺系統是透射電子顯微鏡（TEM）極其重要的硬件之一。無論是早期的頂插式還是目前主流的側插式，都需要操作人員手動將樣品桿插入或拔出測角臺。這種傳統的操作方式，易出錯且非常依賴實驗人員的操作熟練度，已經無法滿足現階段材料研究和工業分析領域簡便高效、高通量的分析需求。日本電子場發射透射電子顯微鏡JEM-F200全新的測角臺系統了傳統的操作方式，實現了全自動進出樣品桿，并且兼顧了超高精度和穩定性，是電鏡技術發展歷程中一個里程碑式的變革。插拔樣品桿作為透射電鏡操作的入門課程，傳統的...
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