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JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜...

軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢測(cè)，并...

JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化集成FE-EPMA。

JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化EPMA。

IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。...

IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場(chǎng)多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。

EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6&...

IB-09060CIS™　低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。

JED-2300/2300F 能譜儀是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)聯(lián)動(dòng)使用，可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析。 EDS通過檢測(cè)被電子束激發(fā)出的樣品特...

JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。